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透射电子显微镜(日本电子JEM-2100PLUS)-东氿校区

发布日期:2024-07-01来源:分析测试中心严丽霞

透射电子显微镜(日本电子JEM-2100PLUS)

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性能指标

加速电压:200 kV;电子枪:LaB6(六硼化镧);TEM点分辨率:0.19 nm;TEM线分辨率:0.14 nm;真空度:优于2×10-5 Pa;放大倍数(高倍): 2000x~1.5 Mx;Gatan CMOS相机;牛津Xplore系列EDS探测器。

主要应用

可实现纳米材料透射像(明场、暗场和高分辨像)观察;选区电子衍射结构分析和纳米区域的成份分析;固体材料和纳米材料的内部微观结构观察与分析;配合能谱仪可以对样品元素进行定性分析。

样品要求

透射电镜不做磁性样品,不含Fe、Co、Ni、Mn及Gd、Tb、Dy、Ho、Er等稀土元素;对于粉末样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥,能够区分支持膜正反面;对于块体样品,要求样品大小为直径3 mm的圆,厚度为200 nm以下;高分辨样品厚度在10 nm以下。

仪器说明

该仪器广泛应用于化学、材料、食品、生物、物理、医学等学科的分析研究。

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